Монокристальный дифрактометр XtaLAB Synergy-S с микрофокусным источником и системами термостатирования образца

Монокристальный дифрактометр c микрофокусным источником рентгеновского излучения, высокоскоростным детектором и с контролируемым нагревом изучаемого кристалла до 1000 °С позволяет расшифровывать атомное строение новых материалов и минералов при экстремальных температурных условиях. Как это ни удивительно, но до сих пор подобные исследования в мире были ограничены температурой 350 °С. Новый прибор позволит придать дифракционному пространству дополнительное температурное «измерение», что даст возможность моделировать поведение материалов в условиях, отличающихся от стандартных лабораторных, позволит получить возможность решения принципиально новых задач, требующих сочетания высокого разрешения с нестандартными условиями. Дифрактометр позволит исследовать пределы термической устойчивости новых веществ, а также моделировать условия природных высокотемпературных процессов.