Отзыв на автореферат диссертации Евгения Валерьевича Юрковца
Отзыв на автореферат диссертации Евгения Валерьевича Юрковца «Разработка численно-аналитических методов исследования оптических констант пленок», представленной на соискание ученой степени кандидата технических наук по специальности 05.13.18 — Математическое моделирование, численные методы и комплексы программ.
Отзыв составил Игорь Ратмирович Крылов, кандидат физико-математических наук, доцент.