Двухлучевые станции «ФИП-СЭМ» в нанотехнологиях

В1.2223 Использование двулучевых станций «сфокусированный ионный пучок — сканирующий электронный микроскоп» для проведения исследований в области нанотехнологий и материаловедения (Focused Ion beam — Scanning Electron Microscope Crossbeam Station for Investigations in Material Science and Nanotechonology)

Цель программы — изучение возможностей использования двулучевых станций сфокусированный ионный пучок — сканирующий электронный микроскоп (ФИП-СЭМ) для проведения исследований в области материаловедения и нанотехнологий

Основные разделы программы

  • базовые методы визуализации микро- и нано-объектов
  • аналитические методы исследования состава и структуры образцов: EBSD, EDX, EBIC и катодолюминесценция
  • методы подготовки образцов для проведения соответствующих исследований

Курс состоит из теоретической части, включающей в себя основы оптики заряженных частиц, физики взаимодействия электронов и ионов с поверхностью твердых тел, а также основы кристаллографии, и практической части, в которой подробно рассмотрены практические аспекты подготовки образцов и проведения исследований методом ФИП-СЭМ.

Формируемые компетенции: готов применять полученные теоретические и практические знания о двухлучевых станциях ФИП-СЭМ в материаловедении и нанотехнологиях.

Руководитель программы — Вывенко Олег Федорович, доктор физико-математических наук, профессор Кафедры Электроники твердого тела СПбГУ.

По результатам итоговой аттестации слушателям выдается удостоверение о повышении квалификации установленного образца СПбГУ.

Необходимые документы

  • Оригинал документа об образовании или справка об обучении для лиц, получающих высшее образование
  • Оригинал паспорта или документ, заменяющий его
  • Оригинал документа об изменении фамилии, имени, отчества (при необходимости)